菲希爾x射線測厚儀fischerscope XAN 220

菲希爾x射線測厚儀fischerscope XAN 220

德國菲希爾FISCHERSCOPE XAN 220 X射線熒光檢測儀

fischerscope XAN 220用于快速、無損分析黃金和銀合金

XAN 220專注于快速、無損的分析珠寶首飾，貴金屬，牙科合金，黃色和白色的黃金，白金，銀，銠和所有珠寶合金和涂料。

fischerscope XAN 220在使用得當時，XAN220可以在不破壞樣本的前提下提供與灰吹法同樣精確的檢測結果。

FISCHERSCOPE  XAN 220 X射線熒光檢測儀特點

菲希爾x射線測厚儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設計

菲希爾x射線測厚儀配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析

菲希爾x射線測厚儀配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析

fischer x射線測厚儀由下的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位  

fischer x射線測厚儀典型應用領域

fischer x射線測厚儀在珠寶和鐘表行業(yè)中的黃金和貴重金屬分析

菲希爾xan220牙科行業(yè)中的材料合金分析

菲希爾xan220特點

菲希爾xan220根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀

半導體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高分辨率

XAN 250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素；

準直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm

基本濾片：固定或6種可切換

固定樣品支架或手動XY載物臺

攝像頭可輕松定位最佳測量位置

樣品高度最多17厘米;