菲希爾x熒光射線分析儀XAN250

菲希爾x熒光射線分析儀XAN250

FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀概述：
菲希爾xan250高性能X射線熒光測量儀，配有非常*的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀特點：
•高性能機型，具有強大的綜合測量能力
•配有4 個電動調節(jié)的準直器和6個電動調節(jié)的基本慮片
•配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
•由下的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位 
典型應用領域：
•對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
•對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
•在珠寶和手表業(yè)，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析
•用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領域

無錫駿展儀器有限責任公司的產品和系統(tǒng)解決方案廣泛應用于大中型國有企業(yè)、汽車制造、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造、冶金、航空航天、工程建設、大學和其他研究實驗室和生產線,質量控制,和教育事業(yè),以評估的幾何特征的材料,組件和結構和理化性質,*制造技術的驅動精益求精。X射線測厚儀原理
fischerscope xan250 XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由測厚儀操作系統(tǒng)轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號。